Forenzná veda je moderná, rozvíjajúca sa vedná disciplína, ktorá zaujíma zvláštne miesto medzi prírodnými odbormi, pretože využíva poznatky z rôznych oblastí vedy za účelom vyšetrovania trestnej činnosti. Forenzné vyšetrovanie slúži právnemu systému na usvedčenie páchateľov z trestnej činnosti, skúmaním dôkazov z miesta činu. Dôležitou súčasťou forenznej vedy je vývoj nových metód analýzy dôkazov z miesta činu. Jednou z týchto moderných metód je aj hmotnostná spektrometria sekundárnych iónov (SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry)), ktorá pre svoju vysokú citlivosť môže byť považovaná za potencionálne perspektívnu techniku na analýzu povýstrelových splodín. Cieľom práce bolo vytvoriť 2D chemické zobrazenie odtlačku prsta na materiály, na ktorom nemôžeme vidieť tento odtlačok voľným okom a identifikovať povýstrelové splodiny vo vzorke. Na analýzu sme využili metódu hmotnostnej spektrometrie sekundárnych iónov, pri ktorej sú emitované atomárne a molekulové ióny  bombardovaním povrchu pevnej látky vysoko-energetickými primárnymi iónmi [1]. V analyzovanej vzorke odtlačku prsta metódou SIMS sme zobrazili sekundárne ióny sodíka (Mm (Na⁺) = 22,99 m/z), draslíka (Mm (K⁺) = 39,098 m/z), fragmentu kyseliny steárovej (Mm (C₁₈H₃₆O₂⁺) = 284,483 m/z) a fragmentu cholesterolu (Mm (C₂₇H₄₅⁺) = 369,654 m/z), ktoré pochádzajú z odtlačku prsta a nachádzajú sa prirodzene v ľudskom pote. Pri analýze povýstrelových splodín sme použili zhorené zvyšky strelného prachu z nábojnice, ktoré obsahovali sekundárne ióny Ba⁺, Pb²⁰⁶⁺,  Pb²⁰⁷⁺, Pb²⁰⁸⁺. Tieto výsledky sme porovnávali s analýzou vzoriek odobraných zo zbrane, čím sme dokázali prítomnosť povýstrelových splodín na hlavni zbrane. Vďaka vysokej citlivosti môžeme metódou hmotnostnej spektrometrie sekundárnych iónov odhaliť prítomnosť streliva aj pri nízkych koncentráciách a preto sa táto metóda javí ako vhodná na analýzu strelivín.